Spektroszkópia

FTIR mikroszkópok image

FTIR mikroszkópok

A JASCO FT/IR készülékek fontos kiegészítője a világszerte is egyre többet használt, mintaelőkészítést nem igénylő, a mikroszkópikus méretű anyagok vizsgálatát lehetővé tevő FT-IR mikroszkóp. A JASCO által kínált FT-IR mikroszkópok között megtalálható az FT/IR-4000/6000 spektrométerek mintaterébe illeszkedő Irtronμ, illetve a különálló egységet alkotó, de az FT-IR készülékek fényforrását és interferométerét használó IRT-5000 és IRT-7000 készülékek. A mikroszkópok vezérlését a minden JASCO spektroszkópiai készüléket vezérlő Spectra Manager II szoftvercsomag biztosítja.

Irtronμ

 Az Irtronμ mikroszkóp az FT/IR-4000/6000 spektrométerek mintaterébe illeszkedve a készülékek fényforrását, interferométerét és detektorát használva teszi lehetővé a 100×100 μm nagyságú (az opcionális MCT detektort használva 20×20 μm) felületek infravörös tartományban való mérését. A manuálisan mozgatható tárgyasztalon elhelyezett minta pozicionálását a mikroszkóp házán elhelyezett 5” LCD monitoron keresztül a beépített CCD kamera segíti, mely akár spektrumfelvétel közben is képes a megfigyelt területről valós időben képet közvetíteni. A transzmissziós és reflexiós módokon kívül lehetőség van germánium, cink-szelenid vagy gyémánt prizmával szerelt ATR objektívek használatára is.

Specifikációk:

Spektrális tartomány: az FT-IR készülék kiépítésétől függően max 13000 – 300 cm-1

  • fényforrás, interferométer, detektor – az FT-IR készülék tartalmazza
  • mérési módok: transzmissziós, reflexiós, ATR
  • objektív: 8x Cassegrain, 12x ZnSe, Ge, gyémánt ATR objektívek
  • minta megfigyelési terület: 1,2 x 0,9 mm
  • legkisebb mérhető terület: 100×100 μm DLATGS detektorral, 20×20 μm MCT detektorral
  • tárgyasztal: manuális X-Y-Z irányban mozgatható

IRT-5000 és IRT-7000

A kiváló optikai tulajdonságokkal rendelkező IRT-5000 és IRT-7000 FT-IR mikroszkópok olyan technikai újdonságokat is tartalmaznak, melyek segítségével az egyetemi/akadémiai kutatóhelyek mellett az igazságügyi, gyógyszeripari és a legkülönbözőbb anyagokkal foglalkozó ipari laboratóriumok is könnyedén alkalmazhatják őket nemcsak kutatói, hanem minőségellenőrzési célokra is. Az FT-IR mikroszkópok transzmissziós, reflexiós és ATR módban is képesek mérni. A készülékek az FT/IR-4000 és FT/IR-6000 spektrométerek fényforrását és interferométerét használják, de saját detektorral rendelkeznek, ilymódon standard FT-IR készülékkel, az IRT készülékek standard mid-band MCT detektorával a használható hullámszámtartomány 7800 – 650 cm-1 közötti, mely azonban változtatható és bővíthető a megfelelő optikai komponensek használatával. A 32x-es nagyítású Cassegrain objektívekkel a legkisebb mérhető felület 3×3 μm lehet. Mindkét készülék standard kiépítésben tartalmazza az IQMonitor funkciót, mellyel egyidőben lehet mérni és a mért területet megfigyelni. Ez utóbbi nemcsak transzmissziós és reflexiós módban lehetséges, hanem az új Clear-View ATR objektívek használatával immáron ATR mérések végzésekor is. Az IQMapping funkcióval lehetővé válik adott felületről több pontos felvételt készíteni a minta vagy a tárgyasztal mozgatása nélkül már az MCT detektorral felszerelt alapkészülékekkel is. A 16 csatornás linear array MCT detektort is tartalmazó IRT-7000-es készülékkel a felületek „imaging” mérése is kivitelezhető a rapid scan funkciót tartalmazó FT/IR-6000-es spektrométerekkel.

Specifikációk:

Fényforrás, interferométer: az FTIR készülék tartalmazza

  • detektor:
    • IRT-5000: MCT
    • IRT-7000: MCT és linear array MCT
  • mérési módok: transzmissziós, reflexiós, ATR
  • hullámszámtartomány: MCT: 7800-650 cm-1
  • linear array MCT: 7000 – 750 cm-1
  • jel/zaj: MCT: 5000:1 (peak-to-peak), linear array MCT: 1000:1 (peak-to peak)
  • objektív: 10x, 16x, 32x Cassegrain, opcionális ZnS, ZnSe, Ge és gyémánt ATR objektívek
  • tárgyasztal: IRT-5000: manuális, IRT-7000: automata, automata fókusszal
  • legkisebb mérhető terület: 3×3 μm (32x Cassegrain)

Spectra Manager II

Az FTIR mikroszkópokat is vezérlő Spectra Manager II szoftvercsomag tartalmazza mindazon funkciókat, melyekkel vezérelhetők a készülékek (mérési paraméterek, a mérési terület kijelölés, fókusz, tárgyasztal mozgatás, mapping mérések). A mérések folyamán egyidejűleg látható a CMOS kamera által közvetített kép a mért felületről és a regisztrált spektrum. Az analízis részben megtalálhatók a spektrumok kiértékeléséhez, feldolgozásához szükséges matematikai funkciók, kibővítve a mapping mérések során kapott mérési eredmények feldolgozásához szükséges funkciókkal.

» a gyártó oldalára » 

 

Az FTIR mikroszkópok mérési mérési tartományának bővítéséhez detektorok, objektívek és egyéb kiegészítők állnak rendelkezésre. A készülékek alapkiépítésben transzmissziós és reflexiós mérésekre alkalmasak, de hagyományos és új típusú „Clear-view” ATR objektívekkel reflexiós mérések kivitelezésére is alkalmassá tehetők. A „Clear-view” ATR objektívekkel ATR mérés közben is megfigyelhető a minta felülete, így a felhasználó biztos lehet abban, hogy a mérés mikroszkopikus méretben is ott történik, ahol az kívánatos.

  • mikroszkópra szerelhető LCD képernyő
  • mikroszkópra szerelhető binokulár a minta közvetlen megfigyeléséhez
  • automata tárgyasztal IRT-5000-eshez automata fókusz funkcióval
  • ATR objektívek: ZnSe, Ge és gyémánt kristállyal
  • ATR „Clear-view” objektívek: ZnS és gyémánt objektívekkel, melyek lehetővé teszik a minta egyidejű megfigyelését és mérését
  • grazing angle kiegészítők polarizátorokkal
  • 10x, 16x és 32x nagyítású Cassegrain objektívek
  • detektorok: DLATGS, InGaAs, InSb, Narrow-band MCT, Wide-band MCT