Az FTIR (Fourier-transzformációs infravörös) mikroszkóp lehetővé teszi, hogy mikroszkopikus méretű minták vizsgálatakor is kihasználjuk az infravörös spektrumok „ujjlenyomat” jellegét. Az FTIR mikroszkópok széles körben alkalmazhatók a tudományos kutatásban, gyógyszeriparban, anyagtudományban, környezetvédelmi vizsgálatokban, minőségellenőrzés során, igazságügyi bizonyításokban és hamisítványok elleni küzdelemben. A mért spektrumok alkalmasak az anyagok molekuláris elemzésére, mikroműanyagok és ismeretlen eredetű szennyeződések azonosítására, bevonatok és biológiai minták vizsgálatára, stb.
IRT-5X
A 2025-ben bemutatott IRT-5X FTIR mikroszkóp fejlesztése során az IRT-5000/7000 készülékek kiváló optikai tulajdonságaira építkezve számtalan hasznos újítással tették rendkívül kényelmessé a hardveres és szoftveres használatot. A mikroszkópok vezérlését a minden JASCO spektroszkópiai készüléket vezérlő, továbbfejlesztett Spectra Manager 2.5 szoftvercsomag biztosítja. Az IRT-5X standard konfigurációban alkalmas transzmissziós és reflexiós mérésekre, de opcionális objektívekkel lehetőség van ATR (Attenuated Total Reflection), RAS (Reflection Absorption Spectroscopy) és polarizációs mérésekre is.
Az IRT-5X FTIR mikroszkóp a JASCO FT/IR spektrométer fényforrását és interferométerét használja, de saját detektorral rendelkezik. A standard mid-band MCT detektor a 7800 – 550 cm-1 hullámszámtartományban használható. Újdonságként elérhető az ugyanabban a Dewar edényben elhelyezett mid-band és narrow-band MCT detektor alkotta páros. Utóbbi szűkebb hullámszámtartományú (7800-750 cm-1), de sokkal jobb érzékenységgel rendelkező detektor, használatával a 32x-es nagyítású objektívekkel a nagyon kis méretű mintákról is remek minőségű spektrumok készíthetők. A minták megfelelő mérési pozícióba és fókuszba helyezése a szoftver vezérelt automata tárgyasztallal lehetséges, a mérés és megfigyelés kiváló minőségét és gyorsaságát az autofókusz,
automatikus fényerősség és az elektronikus mozgatású írisz mechanizmus funkciók segítik. A megfigyeléshez és méréshez az objektívek 4-pozíciós szoftver vezérelt revolverbe helyezhetők, a transzmissziós mérésekhez szükséges kondenzátor lencsék manuális módon, egyszerű, csúszó mechanizmus segítségével cserélhetők. Az IQ Monitor rendszer biztosítja a spektrum méréssel egyidejű látható kép megjelenítést. Ez utóbbi nemcsak transzmissziós és reflexiós módban lehetséges, hanem a Clear-View ATR objektívek használatával ATR méréskor is. A beépített 5M pixeles CMOS kamera elsőrangú mikroszkópos képeket jelenít meg a számít
ógép monitorán, melyek a mért spektrummal együtt egy adatfájlban rögzíthetők.Polarizációs megfigyelés is hozzáadható, mely lehetővé teszi a műanyagok, polimerek és szövetek nyújtóerő hatására bekövetkező szerkezeti változásainak követését is.Az ATR méréseket is gyorsabbá teszi az IQ Mapping funkció, mellyel lehetséges az adott felületről több pontos felvételt készíteni a minta és a tárgyasztal mozgatása nélkül.
Specifikációk:
- kompatibilis FTIR készülékek: JASCO FT/IR-4X, FT/IR-6X, FT/IR-8X
- fényforrás, interferométer: az FTIR készülék tartalmazza
- mérési módok: transzmissziós, reflexiós, ATR
- detektor:
- standard: mid-band MCT detektor (7800-550 cm-1)
- opcionális:
- IQ Duo detektor (7800-550 cm-1 (mid), 7800-750 cm-1 (narrow))
- DLATGS detektor (7800-400 cm-1)
- InGaAs detektor (12000-4000 cm-1)
- jel/zaj: 12000:1 (peak-to-peak, 100 x 100 µm, 4 cm-1, 1 perc, 2200 cm-1 körül)
- megfigyelés: IQ Monitor (szimultán minta mérés és megfigyelés), 5 MP CMOS kamera, nagy intenzitású LED auto-brightness funkcióval
- Cassegrain objektívek:
- standard: 16x
- opcionális: 10x, 32x, gyémánt és germánium ATR
- tárgyasztal: automata, automata fókusszal
- mozgás: X: 100 mm, Y: 75 mm, Z: 30 mm (1 µm lépésköz)
- maximális terhelés: 1kg
- max minta vastagság standard konfigurációban 20 mm, reflexiós mérések esetén növelhető 40 mm-re
- beépített nyomásérzékelő
- méretek: 565(H) × 350(W) × 610(D) mm, 53 kg
Spectra Manager 2.5
A JASCO FT/IR spektrométereket és az IRT mikroszkópokat is vezérlő Spectra Manager 2.5 biztosítja az automatikus váltást az FTIR spektrométer és az FTIR mikroszkóp mérési módjai között. A szoftvercsomag tartalmazza mindazon funkciókat, melyekkel vezérelhetők a készülékek: mérési paraméterek, a mérési terület kijelölés, fókusz, tárgyasztal mozgatás, mapping mérések, stb. A mérések folyamán egyidejűleg látható és rögzíthető a CMOS kamera által közvetített kép a mért felületről és a regisztrált spektrum. Az analízis részben megtalálhatók a spektrumok kiértékeléséhez, feldolgozásához szükséges matematikai funkciók, kibővítve a mapping mérések során kapott mérési eredmények feldolgozásához szükséges funkciókkal.
A mérő- és kiértékelőszoftver több rendkívül hasznos funkciót tartalmaz, mely könnyen kezelhetővé, igazán felhasználóbaráttá teszi a JASCO FT/IR-5X készüléket:
Az IQ IR NAV modul a képfeldolgozó technológiájával valós időben képes a megfigyelési képről felismerni a mérési célokat, regisztrálja a koordinátákat és elvégzi a méréseket.
Az IR Advanced Search NAV lehetővé teszi speciális feltételek megadását, mellyel a mérés szempontjából releváns méretű, alakú, színű részecskéket lehet kijelölni a méréshez. A mérés során a minták megfelelő spektrumkönyvtárak megléte esetén azonnal azonosíthatók.
A Particle Analysis különféle méretméréseket tud végezni a megfigyelési kép és a spektrum információk alapján. Ez a program magában foglalja a statisztikai feldolgozást, mellyel részecskeméret hisztogramokat, gyakorisági és korrelációs eloszlásokat, valamint komponensarányokat is megjeleníthetünk.
