FT/IR-4000/6000 spektrométerek

A JASCO infravörös tartományban mérő készülékek történelme az 1950-es évek közepén kezdődött a DS-101 névvel ellátott diszperzív spektrométer megalkotásával. A több mint fél évszázad alatt gyűjtött tapasztalataikat az FT/IR-4000 és 6000 sorozatú spektrométerek megtervezésénél kamatoztatták. A 4000-es készülékek elsősorban a rutin, míg a 6000-es készülékek a kutatói igények kiszolgálására lettek kifejlesztve. A készülékekhez nagyszámú mintatartó és kiegészítő áll rendelkezésre az egyszerű filmtartótól a felületek sok mérőpontos, gyors feltérképezését végző mikroszkópokig.

A készülékek vezérlését a minden JASCO spektroszkópiai készüléket vezérlő Spectra Manager II szoftvercsomag biztosítja. Minden standard FT-IR készülékhez tartozik a Know-it-All programcsomag is 10000 spektrumot tartalmazó spektrumkönyvtárral. A szoftver képes beolvasni a legfontosabb spektrum formátumokat, különböző spektrumkeresési és kezelési funkciókkal rendelkezik, saját spektrumkönyvtárak készíthetők vele, funkciós csoport analízisre, kémiai szerkezetek szerkesztésére és riportkészítésre is alkalmas.

FT/IR – 4600 és 4700

 Elsősorban rutin és oktatási célú mérésekre ajánlott készülékek, melyek standard kiépítésben a 7800-350 cm-1 infravörös tartományt fedik le, azonban ez bővíthető 15000-2200 cm-1 vagy 5000- 220 cm-1 tartományokig. Standard tartozékként minden készülék része az automatikus beam-splitter beállítás, a változtatható apertúra, a teljes inert gázöblítési lehetőség és az automatikus validáció lehetősége. Az opcionális MCT detektoroknak köszönhetően akár 10 scan/sec „rapid scan” készülékekké is átalakíthatók.

Jasco__FTIR_4600

Bővebben

 FT/IR – 6600, 6700 és 6800

Jasco__FTIR_6600A kutatás-fejlesztési célokra tervezett FT/IR-6000-es készülékek bővítési lehetőségeikkel a standard kiépítésben 7800-350 cm -1 mérési tartományt kiterjeszthetik a távoli és közeli infravörös tartományra is. Maximális kiépítésben akár 25000-10 cm -1 között lehet a lefedett spektrum tartomány. Standard tartozékként minden készülék része az automatikus beam-splitter beállítás, a változtatható apertúra és a teljes inert gázöblítési lehetőség. A távoli infravörös tartományban végzett méréseknél nagy segítséget nyújt az opcionális teljes vákuumozhatóság is. A   4 beam-splitter befogadására és automatikus cseréjére alkalmas  beam-splitter cserélő egységet és az  automata interferométer-ablak cserélőt e gyütt alkalmazva széles hullámszám-tartományban válnak lehetségessé a mérések a felhasználó manuális beavatkozása nélkül. A 20 scan/sec sebességű „rapid scan” mérési mód az aranyozott optikával szerelt 6800-as készüléknél hozzátartozik a standard kiépítéshez, a 6600-as és 6700-as készülékeknél pedig megtalálható az opcionális bővíthetőségi lehetőségek között.

Bővebben

Spectra Manager II FT/IR készülékekhez

 A készülék vezérlését és az adatok feldolgozását a Spectra Manager II  Windows alapú multifunkcionális szoftver végzi. A funkciók között megtalálhatóak a mérési paraméter beállítások és azok tárolása, valós idejű spektrummegjelenítés, skálaváltoztatás, zoom funkciók, simítás, alapvonalkorrekció,  CO2 és vízgőz kompenzáció,  ATR korrekció, csúcskeresés, csúcsmagasság és csúcs alatti terület számítása, aritmetikai műveletek, deriválás, %T/Abs konverzió, KM és KK konverzió, automatikus spektrumkivonás, JCAMP és ASCII konverzió, nyomtatási formátum szerkesztés, stb. A 21 CFR Part 11 megfelelőséget támogató verzió opcionálisan rendelhető, ahogy a PCR, PLS, PCA, CLS többkomponensű analízis programcsomagok is.

Bővebben

» Gyártó oldala »

Az FT/IR mérések kivitelezéséhez rendkívül sokfajta mintatartó áll rendelkezésre. A legkülönbözőbb halmazállapotú, hőmérsékletű és optikai tulajdonságokkal rendelkező anyag infravörös tartományban mutatott spektrális tulajdonságai határozhatók meg a megfelelő mintatartó és mérési módszer helyes kiválasztásával. A JASCO FT/IR készülékekhez széles választékban kínálunk JASCO, Pike és Specac gyártmányú mintatartókat és kiegészítőket a KBr pasztillák előkészítéséhez használt présektől kezdődően a gázcellákon és ATR feltéteken keresztül az FT/IR mikroszkópokig .

Bővebben