A JASCO FT/IR készülékek fontos kiegészítője a világszerte is egyre többet használt, mintaelőkészítést nem igénylő, a mikroszkópikus méretű anyagok vizsgálatát lehetővé tevő FT-IR mikroszkóp. A JASCO által kínált FT-IR mikroszkópok között megtalálható az FT/IR-4000/6000 spektrométerek mintaterébe illeszkedő Irtronμ, illetve a különálló egységet alkotó, de az FT-IR készülékek fényforrását és interferométerét használó IRT-5000 és IRT-7000 készülékek. A mikroszkópok vezérlését a minden JASCO spektroszkópiai készüléket vezérlő Spectra Manager II szoftvercsomag biztosítja.
Irtronμ
Az Irtronμ mikroszkóp az FT/IR-4000/6000 spektrométerek mintaterébe illeszkedve a készülékek fényforrását, interferométerét és detektorát használva teszi lehetővé a 100×100 μm nagyságú (az opcionális MCT detektort használva 20×20 μm) felületek infravörös tartományban való mérését. A manuálisan mozgatható tárgyasztalon elhelyezett minta pozicionálását a mikroszkóp házán elhelyezett 5” LCD monitoron keresztül a beépített CCD kamera segíti, mely akár spektrumfelvétel közben is képes a megfigyelt területről valós időben képet közvetíteni. A transzmissziós és reflexiós módokon kívül lehetőség van germánium, cink-szelenid vagy gyémánt prizmával szerelt ATR objektívek használatára is.
IRT-5000 és IRT-7000
A kiváló optikai tulajdonságokkal rendelkező IRT-5000 és IRT-7000 FT-IR
mikroszkópok olyan technikai újdonságokat is tartalmaznak, melyek segítségével az egyetemi/akadémiai kutatóhelyek mellett az igazságügyi, gyógyszeripari és a legkülönbözőbb anyagokkal foglalkozó ipari laboratóriumok is könnyedén alkalmazhatják őket nemcsak kutatói, hanem minőségellenőrzési célokra is. Az FT-IR mikroszkópok transzmissziós, reflexiós és ATR módban is képesek mérni. A készülékek az FT/IR-4000 és FT/IR-6000 spektrométerek fényforrását és interferométerét használják, de saját detektorral rendelkeznek, ilymódon standard FT-IR készülékkel, az IRT készülékek standard mid-band MCT detektorával a használható hullámszámtartomány 7800 – 650 cm-1 közötti, mely azonban változtatható és bővíthető a megfelelő optikai komponensek használatával. A 32x-es nagyítású Cassegrain objektívekkel a legkisebb mérhető felület 3×3 μm lehet. Mindkét készülék standard kiépítésben tartalmazza az IQMonitor funkciót, mellyel egyidőben lehet mérni és a mért területet megfigyelni. Ez utóbbi nemcsak transzmissziós és reflexiós módban lehetséges, hanem az új Clear-View ATR objektívek használatával immáron ATR mérések végzésekor is. Az IQMapping funkcióval lehetővé válik adott felületről több pontos felvételt készíteni a minta vagy a tárgyasztal mozgatása nélkül már az MCT detektorral felszerelt alapkészülékekkel is. A 16 csatornás linear array MCT detektort is tartalmazó IRT-7000-es készülékkel a felületek „imaging” mérése is kivitelezhető a rapid scan funkciót tartalmazó FT/IR-6000-es spektrométerekkel.
Spectra Manager II
A
z FTIR mikroszkópokat is vezérlő Spectra Manager II szoftvercsomag tartalmazza mindazon funkciókat, melyekkel vezérelhetők a készülékek (mérési paraméterek, a mérési terület kijelölés, fókusz, tárgyasztal mozgatás, mapping mérések). A mérések folyamán egyidejűleg látható a CMOS kamera által közvetített kép a mért felületről és a regisztrált spektrum. Az analízis részben megtalálhatók a spektrumok kiértékeléséhez, feldolgozásához szükséges matematikai funkciók, kibővítve a mapping mérések során kapott mérési eredmények feldolgozásához szükséges funkciókkal.
Az FTIR mikroszkópok mérési tartományának bővítéséhez detektorok, objektívek és egyéb kiegészítők állnak rendelkezésre. A készülékek alapkiépítésben transzmissziós és reflexiós mérésekre alkalmasak, de hagyományos és új típusú „Clear-view” ATR objektívekkel reflexiós mérések kivitelezésére is alkalmassá tehetők. A „Clear-view” ATR objektívekkel ATR mérés közben is megfigyelhető a minta felülete, így a felhasználó biztos lehet abban, hogy a mérés mikroszkopikus méretben is ott történik, ahol az kívánatos.
